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信頼性技法実践講座：故障解析［オンデマンド］

信頼性向上、リスク対応の要「故障解析」の強化を！

藤本直伸 氏（内藤電誠工業㈱ デバイスカンパニー 評価解析事業部 技術顧問）

1973年、三菱電機㈱に入社。品質保証部門・LSI研究所（太陽電池開発など）において、部品の品質保証（信頼性試験、故障解析など）を実施。 高信頼性電子機器（防衛・車載・宇宙）に使用される部品の品質保証のために国内外の部品メーカの工場サーベイと品質改善を行った。 現在、内藤電誠工業㈱において、技術顧問として、宇宙用ロケット（H-3、イプシロンなど）開発支援やJAXA関連の技術支援を行っている。

 

 

高森　圭 氏（沖エンジニアリング㈱ 信頼性ソリューション事業部 事業部長）

1987年、沖エンジニアリング㈱に入社。半導体の評価試験及びデスターのプログラム作成を従事。その後、沖電気工業㈱品質保証部に出向（9年間）し、半導体（メモリーIC）の信頼性試験および解析（新規デバイスの信頼性評価試験および製造ライン認定試験、故障解析等の業務等）の業務に携わった。現在、沖エンジニアリング㈱信頼性ソリューション事業部において事業部長として勤務。

 

田中正敏 氏（宇宙航空研究開発機構）

1986年、㈱東芝に入社。㈱東芝小向工場宇宙開発技術部での機械設計を経て、同品質保証部で宇宙開発機器の安全・信頼性・品質保証業務に従事。その後、NEC東芝スペースシステム㈱、日本電気㈱宇宙システム事業部において、宇宙機システム及びその構成機器並びに地上管制システムの安全・信頼性・品質保証、購入品品質管理等の業務に携わった。現在、宇宙航空研究開発機構　安全・信頼性推進部に勤務。

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