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未然防止・再発防止の基本は故障の根本原因を知ること!<2024年03月21日>

技術者・スタッフの皆様は、さまざまな過去トラ、知識や技法・ツール、更には近年ではそれらをベースとしたDXシステムを活用して、日々品質・信頼性・安全性問題の未然防止、再発防止の徹底に邁進していることと思います。しかしながら、その実現が達成できていると胸を張ることができますか?
未然防止、再発防止に近道はなく、故障を信頼性物理的に捉え、物理的に対応することが不可欠です。そもそも故障を信頼性物理的に捉えるということは、部品・デバイスや接合・機構を物理的要素およびそれらの集合として捉え、ストレスに対する物理的・化学的・機械的・電気的劣化によって特性の変動を評価し、故障を物理現象としてモデル化し、そのモデルに開発・設計することです。この信頼性物理的創り込みの最大のメリットは、新規技術や新規部品・デバイス・機構であろうと考察・対応が可能であることです。
例えばAとBの接合信頼性を考えてみた時、電気的接合、機械的接合、更には光学的接合によって創り込む価値の種類によって大きく変わります。特に光学的接合の場合、機械的な変形による光軸ずれだけでなく、接着剤の化学的な変化である樹脂の黄変により、光学システムの特性は劣化します。このように物理的劣化要因は、達成したい信頼性価値に対して電気的、機械的、化学的等多方面に検討する必要があります。
信頼性物理に基づいた信頼性創り込みを実行するためには、ある程度基本的な信頼性物理体系を習得しておく必要がありますが、研究・開発、設計更には品質、信頼性に従事されている技術者の皆様であれば、それらの習得は困難ではないでしょう。
『信頼性技法実践講座:信頼性物理』は技術者、スタッフの皆様が、信頼性工学の概論と信頼性物理の基本的知識をマスターできるようカリキュラムを工夫しています。当セミナーを受講され、その基本を学んでいただくことで、日々未然防止、再発防止に悩む方の一助となれば幸いです。皆様の受講を心からお待ちしております。
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https://questant.jp/q/REPHod_DL



門田 靖 氏
1981年 東京都立大学理学部物理学科卒業
同年株式会社リコーに入社
本社QA部門 信頼性技術部署に配属
以来デバイス・材料等ミクロ領域の故障メカニズム解析を中心に主に研究開発部門,電子デバイス部門,電子写真研究部門と関り,数々の信頼性技術業務に従事.
2014年に研究開発部門に異動し,先端デバイスの研究開発に従事
現在,日本信頼性学会会長,電子情報通信学会員,電気学会員,1989年以来,一財)日本科学技術連盟において各種信頼性講座の講師及び運営委員,運営小委員長.信頼性・保全性シンポジウム運営副委員長.
一財)ビジネス機械・情報システム産業協会においてASEAN基準認証タスクフォース委員長,地独)東京都立産業技術センターにおいて信頼性安全研究会副会長 博士(工学)


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